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德国TIR100–2红外热发射率测定仪可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量,该设备自成一体,包含全部操作和电子元件,可测量和处理传感器信号和显示数据,以及控制黑体温度。
DS半球发射率测量仪AE1RD1是用于测量发射率的专用仪器。低温加热被测样品,仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量后换算出发射率,根据设定的标准体发射率准参数,计算并读出被测样品发射率。
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