EddyCus® map 2530RM电阻率测试仪

EddyCus® map 2530RM电阻率测试仪在非接触模式下自动测量大型样品的薄层电阻，最大可达300×300平方毫米（12×12英寸）。在手动样品定位时，该设备会自动测量并显示整个样品区域的薄层电阻的准确映射。测量设置允许轻松灵活地在低于 1 分钟的快速测量时间或超过 10,000 个测量点的高空间测量分辨率之间进行选择。

EddyCus® map 2530RM电阻率测试仪产品介绍：

EddyCus® map 2530系列在非接触模式下自动测量大型样品的薄层电阻，最大可达300×300平方毫米（12×12英寸）。在手动样品定位时，该设备会自动测量并显示整个样品区域的薄层电阻的准确映射。测量设置允许轻松灵活地在低于 1 分钟的快速测量时间或超过 10,000 个测量点的高空间测量分辨率之间进行选择。

产品特点：

· 非接触式

· 快速、高重复度测量

· 高分辨率成像

· 最大 300 x 300 mm（12"）的样品成像测量

· 封装的导电层的表征

· 软件集成分析功能，例如电阻均一性分布、线扫描、单点分析

· 测量数据保存和导出功能

· 缺陷识别、分析

产品优势:

·非接触式成像

·高速(5分钟测量10,000个检测点)

· 重复性和精确性

·高分辨率(9–90,000个检测点)

·封装后的膜层成像

·均匀性和缺陷成像

产品参数

软件和设备操控:

· 人性化的软件

· 实时测绘测量

· 易于使用的统计分析选项

· 预定义的测量和产品配方（尺寸、间距、阈值）

· CSV 和 pdf 导出

· 3 用户级别

· 用于参数转换的材料数据库

· 边缘效应补偿

· 数据的存储和导入

· 数据集的导出（例如到 EddyEva、MS Excel、Origin）